掃描電鏡的二次電子探測器如何影響圖像對比度

在掃描電子顯微鏡 (SEM) ?中，二次電子探測器 (Secondary Electron Detector, SE Detector) 是生成圖像的主要設(shè)備之一，它通過探測從樣品表面發(fā)射出的二次電子 (Secondary Electrons, SE) 來構(gòu)建圖像。

MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-09-05

相約深圳丨澤攸科技誠邀您參加CIOE2024中國光博會

2024年9月11-13日，第二十五屆中國國際光電博覽會（CIOE中國光博會）將在深圳國際會展中心舉辦，澤攸科技將攜一眾先進科學儀器及新微納技術(shù)領(lǐng)域行業(yè)解決方案亮相6D91、6D92展位，我們期待著與各位新老朋友們見面，也希望通過此次機會與業(yè)內(nèi)同仁、專家們共同交流探討、共商合作、互利發(fā)展。

MORE INFO → 公司新聞 2024-09-04

掃描電鏡的光束調(diào)制如何影響分辨率和成像速度

在掃描電鏡（SEM）?中，光束調(diào)制是指通過調(diào)整電子束的各種參數(shù)（如束流強度、掃描速度、加速電壓等）來影響成像的過程。

MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-09-04

如何在掃描電鏡中進行高真空條件下的非導電樣品成像

在掃描電鏡（SEM）?中對非導電樣品進行高真空條件下的成像可能會遇到電荷積累問題，這會導致圖像失真甚至損壞樣品。

MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-09-04

如何在掃描電鏡中優(yōu)化樣品的電荷補償

在掃描電鏡（SEM）?中，優(yōu)化樣品的電荷補償非常重要，以確保圖像質(zhì)量和準確性。

MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-09-03

如何在掃描電鏡中減少樣品的電子束損傷

在掃描電鏡（SEM）?中減少樣品的電子束損傷可以通過以下幾種方法實現(xiàn)：

MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-09-03

掃描電鏡的冷卻臺如何用于觀察溫度敏感樣品

掃描電子顯微鏡（SEM）?的冷卻臺（也稱為冷臺或冷凍臺）是專門設(shè)計用于觀察溫度敏感樣品的一種附件。

MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-09-02

如何在掃描電鏡中進行高真空和低真空模式切換

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，高真空（High Vacuum, HV）和低真空（Low Vacuum, LV）模式的切換是為了適應(yīng)不同樣品的成像需求。

MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-09-02