掃描電子顯微鏡（SEM）中的電子束對樣品會產(chǎn)生多種影響，包括以下幾個方面：

電子束散射：電子束與樣品中的原子和分子相互作用時，會發(fā)生散射現(xiàn)象。這種散射會導(dǎo)致電子在樣品中的方向改變，并散布到不同的角度和位置上。散射電子通過探測器收集后，可以用于獲取樣品的反射電子圖像和散射電子圖像。

能量轉(zhuǎn)移：電子束與樣品發(fā)生相互作用時，會將能量傳遞給樣品。這種能量轉(zhuǎn)移可能導(dǎo)致樣品加熱，尤其是在高電子束密度或長時間照射下。樣品加熱可能導(dǎo)致材料的結(jié)構(gòu)變化、相變或熱解等效應(yīng)。

輻照損傷：高能電子束與樣品相互作用時，可能會引起輻照損傷。這包括樣品中的電子束誘導(dǎo)位移、空位形成和晶格缺陷等。輻照損傷可能導(dǎo)致樣品性質(zhì)的變化，例如晶格畸變、晶體缺陷的增加以及材料性能的退化。

電子激發(fā)：電子束的能量可以激發(fā)樣品中的電子。這可能導(dǎo)致電子從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)，從而引起樣品的熒光發(fā)射。利用樣品熒光發(fā)射的特征，可以進行元素分析和成分表征。   

ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機 

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡中的電子束對樣品會造成什么影響。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價格請咨詢