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臺式掃描電鏡與電子掃描電鏡區(qū)別

SEM掃描電鏡SEM和TEM電子掃描電鏡都是常用的電子顯微鏡，但它們的工作原理、樣品制備要求和應(yīng)用領(lǐng)域有所不同。

臺式掃描電鏡的對焦一般分為粗調(diào)和細調(diào)兩個階段。以下是對這兩個階段的具體介紹：

臺式掃描電鏡的分辨率要根據(jù)具體的實驗需求和樣品類型來確定。

臺式掃描電鏡的分辨率可以定義為它所能夠分辨的可接受的特征尺寸。

臺式掃描電鏡主要用于觀察材料的表面形貌、結(jié)構(gòu)、成分等特征，具有高分辨率、高放大倍數(shù)、高靈敏度等特點。

掃描電鏡中，電子束通過掃描樣品表面來獲得樣品的形貌和表面信息。由于電子束是一種帶負電的粒子束，當它照射到非導(dǎo)電材料表面時，由于電子束帶負電，會使得樣品表面帶正電，從而在樣品表面形成一個電荷分布。

SEM掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，它利用高能電子束與樣品表面相互作用，通過對樣品表面的電子信號進行探測和分析，從而獲得樣品的形態(tài)、結(jié)構(gòu)和成分等信息。

掃描電鏡是一種非常重要的分析儀器，可以用來觀察樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)，以及分析樣品的成分和性質(zhì)。