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掃描電鏡的樣品臺有哪幾種運(yùn)動(dòng)方式？

掃描電鏡（SEM）的樣品臺常見的運(yùn)動(dòng)方式主要包括以下幾類，每種運(yùn)動(dòng)方式都對應(yīng)不同的調(diào)節(jié)需求：

掃描電鏡（SEM）能看到的最小結(jié)構(gòu)，取決于顯微鏡的類型、電子槍性能、探測器類型以及樣品制備情況。

有區(qū)別，而且在操作方法、樣品制備、成像效果等方面差別不小。

非導(dǎo)電樣品在掃描電鏡（SEM）中直接成像時(shí)容易出現(xiàn)電荷積累（charging）問題，導(dǎo)致圖像漂移、發(fā)亮斑點(diǎn)或模糊。

在掃描電鏡（SEM）下，樣品充電（charging）主要發(fā)生在非導(dǎo)電或低導(dǎo)電材料表面，因?yàn)殡娮邮Z擊后產(chǎn)生的多余電荷無法及時(shí)泄放。

掃描電鏡（SEM）圖像中顆粒顯示模糊，通常是以下幾個(gè)原因造成的。根據(jù)經(jīng)驗(yàn)和常見問題，可以從以下幾個(gè)方面來排查和解決：

在使用掃描電鏡（SEM）拍圖時(shí)，建議關(guān)閉燈光（尤其是室內(nèi)白熾燈、日光燈或輔助照明），具體原因如下：

當(dāng)掃描電鏡（SEM）圖像變亮或出現(xiàn)過曝現(xiàn)象時(shí)，說明圖像中部分區(qū)域亮度過高，導(dǎo)致細(xì)節(jié)丟失、圖像偏白或泛光。