掃描電鏡二次電子信號(hào)偏弱，通常與束流、成像條件和樣品狀態(tài)有關(guān)，可以從參數(shù)和操作上進(jìn)行改善。

首先檢查束流與加速電壓。束流過小或電壓偏低，會(huì)直接導(dǎo)致二次電子產(chǎn)生數(shù)量不足。在不引起充電或損傷的前提下，適當(dāng)提高束流或微調(diào)加速電壓，往往能明顯增強(qiáng)信號(hào)。

其次是工作距離和探測(cè)器狀態(tài)。二次電子探測(cè)器對(duì)工作距離較敏感，偏離推薦范圍會(huì)降低收集效率，應(yīng)將工作距離調(diào)回合適區(qū)間，并確認(rèn)探測(cè)器已開啟、位置正常。

第三是樣品表面狀態(tài)。表面污染、氧化或吸附層，會(huì)抑制二次電子發(fā)射，使圖像偏暗。必要時(shí)清潔樣品表面，或更換未受污染區(qū)域進(jìn)行觀察。

另外，掃描參數(shù)也會(huì)影響信噪比。掃描速度過快、幀平均不足，會(huì)使信號(hào)顯得偏弱，可適當(dāng)放慢掃描或增加積分。

總體來說，通過優(yōu)化束流與電壓、調(diào)整工作距離、確認(rèn)探測(cè)器狀態(tài)，并改善掃描條件，通常可以有效提升二次電子信號(hào)強(qiáng)度。